Personen.Kemnitz.Patente (Struktur)
Patente
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Patent |
Nummer |
Erfinder |
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| Schaltungsanordnung zur Fehlererkennung in reversiblen parallelen Datenfolgen. | DD 279.333, 1990 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Verfahren zur parallelen Programmierung von gemeinsam mit dem Prüfobjekt integrierten Testdatenauswerteschaltungen und Schaltungsanordnung zu seiner Realisierung. | DD 282.039, 1990 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Schaltungsanordnung zur Erweiterung der Anzahl der Eingänge für parallele Signaturanalysatoren. | DD 282.532, 1990 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| "Built-in-self-test" - Verfahren und Schaltungsanordnung zu seiner Realisierung. | DD 286.237, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Modengesteuertes Testregister in CMOS-Technik. | DD 287.791, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
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Funktionskonvertierbare Speicherzelle. |
DD 290.272, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Verfahren zur Überwachung der Abarbeitung des Programmablaufs in Rechnerarchitekturen. | DD 290.966, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G.; Bimböse, T. |
| Schaltungsanordnung zur Überwachung der Abarbeitung von Unterprogrammen in Rechnerarchitekturen. | DD 290.967, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Verfahren zur Überwachung des Programmablaufes in Rechnerarchitekturen. | DD 291.176, 1991 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Verfahren und Schaltungsanordnung zur Steuerung eines Betriebsruhestromtests. | DE 41.17.493, 1992 | Kemnitz, G. |
| Verfahren und Schaltungsanordnung zum Test von Speichern mit wahlfreiem Zugriff. | DE 41.30.570, 1992 | Kärger, R.; Kemnitz, G. |
| Verfahren und Schaltungsanordnung zum Test von Speichern mit wahlfreiem Zugriff. | DE 41.30.572, 1992 | Kärger, R.; Kemnitz, G.; Kemnitz, K. |
Autor: gkemnitz, Letzte Änderung: 09.04.2024 17:10:41
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