Personen.Kemnitz.Patente (Struktur)


Patente

Patent

Nummer

Erfinder

Schaltungsanordnung zur Fehlererkennung in reversiblen parallelen Datenfolgen. DD 279.333, 1990 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Verfahren zur parallelen Programmierung von gemeinsam mit dem Prüfobjekt integrierten Testdatenauswerteschaltungen und Schaltungsanordnung zu seiner Realisierung. DD 282.039, 1990 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Schaltungsanordnung zur Erweiterung der Anzahl der Eingänge für parallele Signaturanalysatoren. DD 282.532, 1990 Kärger, R.; Kemnitz, G.
"Built-in-self-test" - Verfahren und Schaltungsanordnung zu seiner Realisierung. DD 286.237, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Modengesteuertes Testregister in CMOS-Technik. DD 287.791, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.

Funktionskonvertierbare Speicherzelle.

DD 290.272, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Verfahren zur Überwachung der Abarbeitung des Programmablaufs in Rechnerarchitekturen. DD 290.966, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.; Bimböse, T.
Schaltungsanordnung zur Überwachung der Abarbeitung von Unterprogrammen in Rechnerarchitekturen. DD 290.967, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Verfahren zur Überwachung des Programmablaufes in Rechnerarchitekturen. DD 291.176, 1991 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Steuerung eines Betriebsruhestromtests. DE 41.17.493, 1992 Kemnitz, G.
Verfahren und Schaltungsanordnung zum Test von Speichern mit wahlfreiem Zugriff. DE 41.30.570, 1992 Kärger, R.; Kemnitz, G.
Verfahren und Schaltungsanordnung zum Test von Speichern mit wahlfreiem Zugriff. DE 41.30.572, 1992 Kärger, R.; Kemnitz, G.; Kemnitz, K.


Autor: gkemnitz, Letzte Änderung: 29.08.2022 19:07:12


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